Key points are not available for this paper at this time.
الخلاصة تعتبر درجات حرارة الإلكترون في مناطق H ii مكونًا حاسمًا في تحديد نسبة المعادن، وقد كشفت الملاحظات الحديثة عن وجود فروق نظامية في درجات الحرارة المقاسة باستخدام أيونات مختلفة. نقدم درجات حرارة الإلكترون (T e) المقاسة باستخدام الخطوط الأيونية البصرية (N ii λ 5756، O ii λ λ 7320، 7330، S ii λ λ 4069، 4076، O iii λ 4363، وS iii λ 6312) لعينة من مناطق H ii في سبع مجرات قريبة. نستخدم الملاحظات من مسح الفيزياء بدقة زاوية عالية في المجرات القريبة (PHANGS) التي تم الحصول عليها باستخدام مطيافات المجال المتكامل على Keck (Keck Cosmic Web Imager) والتلسكوب الكبير جدًا (Multi-Unit Spectroscopic Explorer). نقارن قياسات T e المختلفة مع خصائص البيئة في منطقة H ii وISM مثل كثافة الإلكترون، معامل التأين، تشتت سرعة الغاز الجزيئي، وكتلة وعمر التجمعات النجمية/العنقود obtained from PHANGS. نجد أن درجات الحرارة من O ii و S ii قد تكون مبالغ فيها بسبب وجود عدم التجانس في كثافة الإلكترون في مناطق H ii. نقيس درجات حرارة عالية لـ O iii في مجموعة فرعية من المناطق ذات تشتت سرعة الغاز الجزيئي العالي ومعامل تأين منخفض، والتي يمكن تفسيرها بوجود صدمات ذات سرعة منخفضة. تأكيدًا للدراسات السابقة، فإن T e – T e بين درجات حرارة N ii و S iii لديها أقل تشتت ملحوظ وتتابع التوقعات من نمذجة التأين الضوئي، وهو ما يشير إلى أن هذه المؤشرات تعكس درجات حرارة منطقة H ii عبر مناطق التأين المختلفة بشكل أفضل من O ii و S ii و O iii.
درس Vaught وزملاؤه (الأربعاء) هذا السؤال.