تصحيح ملفات الخطوط لقمة تشتت الأشعة السينية باستخدام ثلاث طرق تحليل

في هذه الدراسة، تم استخدام ثلاث طرق مثل طريقة ويليامسون-هول، ورسمة الحجم-الاجهاد، وطريقة هالر-فاجنر لتحليل خطوط تشتت الأشعة السينية لتحديد حجم البلورات والإجهاد الشبكي لجزيئات نانو أكسيد النيكل، ثم مقارنة نتائج هذه الطرق مع طريقتين أخريين. تم حساب النتائج لكل من هذه الطرق لحجم البلورات وهي (0.42554) نانومتر، و(1.04462) نانومتر، و(3.60880) نانومتر، والإجهاد الشبكي هو (0.56603)، و(1.11978)، و(0.64606) على التوالي، وقورنت مع نتيجة طريقة شيرر (0.29598) نانومتر، و(0.34245)، وطريقة شيرر المعدلة (0.97497). تم ملاحظة الفرق في النتائج المحسوبة لكل من هذه الطرق في هذه الدراسة.