التحليل النانوي لأسطح البوليمرات

تقدم هذه الورقة نتائج الصلابة العادية، مؤشر البلاستيك، والمرونة لعدد من البوليمرات العضوية (بولي (ميثيل ميثاكرولات)؛ PMMA، بولي (ستايرين)؛ PS، بولي (كربونات)؛ PC، وبولي (إيثيلين) ذو وزن جزيئي فائق؛ UHMWPE) تم الحصول عليها باستخدام طريقة المطابقة عند التلامس. تصف الورقة بالتفصيل اعتماد عمق الاختراق المفروض، والحمولة القصوى، ومعدل التشوه على قيم الصلابة والمرونة لهذه الأسطح البوليمرية؛ حيث يتراوح عمق الاختراق النموذجي من حوالي 10 نانومتر إلى م حيث تكون الأحمال المفروضة أقل من 300 مللي نيوتن. تظهر النتائج تأثير قساوة معدل التشوه بشكل كبير لهذه الأنظمة، وربما استجابة أشد غرابة لهذه المواد في الطبقات القريبة من السطح (هذه الطبقات دون الميكرون). كما تتضمن الورقة اعتبارات عملية تهدف إلى التغلب على بعض القيود الذاتية لهذه التقنية عند استخدامها لأسطح البوليمرات، خاصة لظاهرة الزحف التي قد تلاحظ في فترات التحميل التجريبية الأولية. يتم مراجعة ملاءمة استخدام معايرة الرأس المكونة على ركائز صلبة عند استغلال البوليمرات في نهاية الورقة.