طيف أشعة إكس الكونية المنتشرة المقاسة بواسطة HEAO 1

تم تحديد طيف المكون غير المتجانس والمتناظر من أشعة إكس الكونية ضمن نطاق 13-180 keV بواسطة أداة أشعة إكس الصعبة وأداة غاما التابعة لجامعة كاليفورنيا، سان دييغو ومعهد ماساتشوستس للتكنولوجيا (HEAO A4) في مرصد الطاقة العالية الفلكي-1 (HEAO-1). تتكون الأداة من مجموعة من العدادات المتلألئة المحمية والمصححة بشكل نشط، بما في ذلك مجموعة كاشف الطاقة المنخفضة التي حصلت منها البيانات المبلغ عنها هنا. تتناسق هذه البيانات بسلاسة مع الطيف عند الطاقات المنخفضة المبلغ عنها بواسطة أداة GSFC HEAO A2 ومع تلك التي تم قياسها حتى 400 keV بواسطة كاشفات الطاقة المتوسطة HEAO A4. كما تنضم مجموعة بيانات HEAO إلى النتائج الحديثة من COMPTEL في مرصد غاما كومبتون في نطاق 1-10 MeV، الذي فشل في تأكيد وجود "نتوء MeV" في هذا النطاق. على الرغم من أن الطيف خلال النطاق الكامل 3 keV < E < 100 GeV يمكن أن يتناسب مع تعبير تحليلي بسيط، إلا أن الأصل يرجح أن يعود إلى عدد من مكونات المصادر المتميزة. الفكرة السائدة حول الأصل هي أن طيف أشعة إكس الصعبة يرجع إلى أشعة إكس من مكونات مختلفة من AGN، وخاصة المجرات سايفرت التي تمتد إلى المسافات الكونية، وأن أشعة غاما منخفضة الطاقة قد تكون ناتجة عن انبعاثات من السوبرنوفا من النوع 1a، أيضًا مدمجة إلى مسافات كونية. قد يكون طيف أشعة غاما عالية الطاقة المحدد بواسطة EGRET، أيضًا على CGRO، نتيجة لمصادر أشعة غاما غير المحللة. يجب على نماذج الإنتاج من هذه المكونات المصدرية، المستخدمة حتى العصر الحالي، أن تعيد إنتاج الطيف المستمد من الملاحظات.