Ionización multiphotón única y doble de neón en el EUV

Resumen Nueva información que demuestra la importancia de la ionización multiphotón secuencial y simultánea (o directa) de electrones de capas internas de neón se discute en este artículo. El Ne fue irradiado con pulsos de láser de electrones libres (FEL) intensos de 93 eV en FLASH y se estudió con la ayuda de espectrometría de fotoelectrones. Esto dio como resultado la ionización única y doble de neón por dos y tres fotones, eliminando electrones de los subniveles 2s y 2p del átomo neutro de Ne por múltiples caminos diferentes. Las características espectrales de los fotoelectrones se identificaron a través de la comparación con la base de datos del NIST y la teoría de matriz de densidad dependiente del tiempo promedio de campo. Los cálculos muestran que los procesos de ionización multiphotón directa son extremadamente sensibles a la intensidad del FEL enfocada.