Sverkhbystraya kinetika lyuminestsentsii i effekty lokalizatsii neravnovesnykh nositeley v vyrozhdennykh sloyakh n-InGaN
Puntos clave
This study investigates the localization effects of non-equilibrium holes in n-InGaN films with high indium content.
Characterization through picosecond time-resolved photoluminescence spectroscopy
Analysis of energy scales of energy tails
Determination of localization energy and width of non-equilibrium hole distribution
Identified effects of temperature on luminescence quenching
Observed a redshift in emission wavelength compared to spontaneous emission
Established parameters relevant to electron recombination and localized holes
Resumen
В работе исследованы эффекты локализации неравновесных дырок в вырожденных эпитаксиальных пленках n-InGaN с высокой (∼60 %) долей индия, излучающих в ближней инфракрасной области спектра. По данным спектроскопии фотолюминесценции с пикосекундным временным разрешением проведена характеризация энергетических масштабов хвостов зон, установлены энергия локализации и ширина распределения неравновесных дырок в случайном потенциальном рельефе. С учетом полученных параметров в рамках модели рекомбинации свободных электронов и локализованных дырок объясняются характер температурного гашения эмиссии и красный сдвиг длины волны генерации относительно спонтанного излучения.