Construcción y evaluación de una medida de enfoque basada en wavelets para imágenes de microscopía

La imaging de microscopía no puede lograr simultáneamente alta resolución y amplio espacio de imagen. El autofoco es de fundamental importancia para la micromanipulación automatizada. Este artículo propone una nueva medida de enfoque basada en wavelets, que se define como una razón de coeficientes de alta frecuencia y coeficientes de baja frecuencia. Se utilizan 8 series de 49 imágenes de microscopio cada una adquirida bajo cinco aumentos para comparar exhaustivamente el rendimiento de nuestra medida de enfoque con las medidas de enfoque clásicas y populares, incluyendo Varianza Normalizada, Entropía, Energía Laplace y medidas de enfoque de alta frecuencia basadas en wavelets. La robustez de estas medidas de enfoque se evalúa utilizando secuencias de imágenes ruidosas corruptas por ruido blanco gaussiano con desviaciones estándar (STD) 5 y 15. Se propone una metodología de evaluación, basada en la cual estas 5 medidas de enfoque son clasificadas. Los resultados experimentales muestran que la medida de enfoque propuesta puede proporcionar significativamente el mejor rendimiento general y robustez. Esta medida de enfoque puede aplicarse ampliamente a aplicaciones biológicas y biomédicas automatizadas.