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La forma de la curva de potencial de circuito abierto (OCP) de los electrodos de mezcla de silicio–grafito cambia durante el envejecimiento del ciclo debido a la degradación más rápida del silicio en comparación con el grafito. En este estudio, se investiga el impacto de estos cambios en la curva de voltaje de circuito abierto (OCV) de células completas. Reconstruir la curva de OCV de celdas envejecidas desplazando y escalando linealmente las curvas de OCP de medio celda prístinas es un método de diagnóstico establecido para determinar los modos de degradación que ocurren en celdas de iones de litio. Reconstruimos las curvas de OCV de celdas comerciales envejecidas con ánodos de silicio–grafito utilizando tanto las curvas de OCP de silicio–grafito prístinas como envejecidas. Se obtienen estimaciones más bajas para la pérdida de material activo del ánodo y estimaciones más altas para la pérdida tanto de material activo del cátodo como de inventario de litio, cuando se consideran los cambios inducidos por el envejecimiento en la forma de la OCP de silicio–grafito. Los cambios inducidos por el envejecimiento en la forma de las curvas de OCP de silicio–grafito se integran en el método de diagnóstico utilizando un modelo de OCP de electrodo de mezcla. Esto no solo mejora la validez de los modos de degradación determinados, sino que también permite la estimación no destructiva de la fracción de capacidad del ánodo proporcionada por el silicio, basada en las mediciones de OCV de celdas completas.
Schmitt et al. (Thu,) estudiaron esta cuestión.