Las metastructuras pueden manipular con precisión las fases de la luz y se utilizan ampliamente en imágenes, comunicaciones ópticas y otros campos. Por lo tanto, es fundamental evaluar de manera integral y precisa el rendimiento óptico de estas estructuras. Sin embargo, las técnicas de caracterización actuales dependen principalmente de mediciones locales o indirectas, lo que dificulta la evaluación precisa de la distribución de fase central. Además, las técnicas de medición de fase existentes requieren configuraciones complejas o múltiples imágenes de intensidad para la reconstrucción. Este estudio presenta un método y un sistema de caracterización óptica de frentes de onda basado en interferometría de cizallamiento lateral multionda para metastructuras. El sistema propuesto, que posee una especificación de sensor con una resolución de fase de 2 nm (RMS), podría recuperar información de fase de una sola medición, simplificando así el proceso de caracterización, sin necesidad de un haz de referencia y resistiendo eficazmente a la interferencia externa. Además, integra un módulo de modulación de polarización desmontable, lo que permite la adaptación tanto a metastructuras sensibles a la polarización como a las insensibles. Se llevaron a cabo experimentos de medición en tres diferentes muestras de metastructuras con funciones variadas: una metagrating, un metalente toroidal y un metamaterial en espiral. Los resultados de las mediciones demostraron la detección de la modulación de fase de estas metastructuras con una alta repetibilidad de < 0.04 rad, mostrando alta fiabilidad y estabilidad.
Cheung et al. (Fri,) estudiaron esta cuestión.