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Los autores investigaron la influencia de los sustratos en el espectro de dispersión Raman del grafeno. Las firmas Raman a temperatura ambiente de capas de grafeno sobre sustratos de GaAs, zafiro y vidrio se compararon con las del grafeno sobre el sustrato estándar de Si∕SiO2 (300nm), que sirvió como referencia. Se encontró que, mientras que el pico G del grafeno sobre Si∕SiO2 y GaAs se sitúa en 1580cm−1, se desplaza hacia abajo en ∼5cm−1 para el grafeno sobre zafiro y, en algunos casos, se divide en dobletes para el grafeno sobre vidrio con una frecuencia central alrededor de 1580cm−1. Los resultados obtenidos son importantes para la nanometrología del grafeno y de los dispositivos basados en grafeno.
Calizo et al. (Mon,) estudiaron esta cuestión.