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Se describe un método interferométrico temporalmente resuelto mejorado para medir cambios dependientes de la intensidad en el índice de refracción de materiales ópticos. Un intenso pulso de 125 ps de un sistema amplificador de láser de vidrio Nd : YAG de 1064 nm se propaga a través de la muestra que se coloca en uno de los brazos de un interferómetro Michelson modificado. El coeficiente de índice de refracción no lineal se mide a partir del patrón de franjas dependiente del tiempo formado en la salida del interferómetro. Se informan valores para varios vidrios ópticos de bajo índice (BK-7, FC-5, FK-51), sílice fundida, un vidrio láser de silicato (ED-2), un vidrio rotador de Faraday (FR-5) y un cristal no lineal (KH2PO4). Se discuten posibles fuentes de error al utilizar este enfoque.
Milam et al. (Tue,) estudiaron esta cuestión.