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Para una variedad de recubrimientos ópticos UV, se midió la rugosidad de la superficie mediante un microscopio de fuerza atómica (AFM) para estudiar su dependencia del material de la película y el grosor, el diseño del recubrimiento y el proceso de deposición. Después de analizar las funciones de densidad espectral de potencia correspondientes, proponemos un modelo de clasificación simple para recubrimientos según las contribuciones de la rugosidad del sustrato y la rugosidad intrínseca de la película a la dispersión. Se presentan los resultados de las mediciones de dispersión en diferentes tipos de recubrimientos y se encuentran en buen acuerdo con las predicciones basadas en los datos del AFM. Se discuten las consecuencias para una estrategia de reducción de dispersión.
Jakobs et al. (Sun,) estudiaron esta cuestión.
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