Una técnica de retención condicional sub-130-nm

El aumento de las corrientes de fuga combinado con la reducción de los márgenes de ruido degrada significativamente la robustez de los circuitos dinámicos ancho. En este documento, describimos dos topologías de retención condicional para mejorar la robustez de los circuitos dinámicos ancho sub-130-nm. Son aplicables en modo normal de operación, así como durante la prueba de burn-in. Una gran fracción de los retenedores se activa de forma condicional, permitiendo el uso de retenedores fuertes con circuitos precargados con fuga sin un impacto significativo en el rendimiento de los circuitos. En comparación con las técnicas convencionales, se ha observado un rendimiento hasta un 28% mayor para puertas dinámicas anchas en una tecnología de 130-nm. Además, el retenedor propuesto para burn-in resulta en una reducción del área activa del 64%.