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सार यह अध्ययन रैंक सहसंबंध गुणांक का उपयोग टर्बाइन डिस्क के बहु-साइट विफलता सहसंबंध की जांच करने के लिए करता है। तनाव-शक्ति हस्तक्षेप मॉडल से निकालकर, Reliability मॉडल दोनों प्रकार के बनाए जाते हैं जो बहु-साइट विफलता सहसंबंध पर विचार करते हैं और नहीं करते हैं। इसके अलावा, Weibull वितरण फ़ंक्शन के संदर्भ में weakest link सिद्धांत (WLT) को टर्बाइन डिस्क के थकान जीवन की भविष्यवाणी करने के लिए एक मॉडल विकसित करने के लिए उपयोग किया जाता है, जो महत्वपूर्ण अनुभागों की मात्रा को ध्यान में रखता है। टर्बाइन डिस्क के निम्न चक्र थकान (LCF) में विविधता की जांच की जाती है, जिससे इन डिस्क के लिए संभाव्य थकान जीवन भविष्यवाणी विधि का निर्माण होता है। जब सैद्धांतिक मानों की तुलना प्रयोगात्मक मानों से की जाती है, तो यह स्पष्ट हो जाता है कि बहु-साइट विफलता सहसंबंध को ध्यान में रखने से टर्बाइन डिस्क के जीवन की भविष्यवाणियों की सटीकता को काफी बढ़ा दिया जाता है।
Wang et al. (Mon,) studied this question.