सूपरकंडक्टिंग बहुत पतले FeSe1−xTex फिल्म (x = 0 - 0.5) की माइक्रोवेव जटिल धारिता माप

सार: सूपरकंडक्टिंग फिल्मों की जटिल धारिता को मापने के लिए जो कि प्रवेश गहराई से बहुत पतली हैं, तापमान की व्यापक सीमा में T c के निकटता सहित, हमने माइक्रोवेव इलेक्ट्रिक क्षेत्रों का उपयोग करके एक नवोन्मेषी कैविटी विक्षेपण तकनीक विकसित की जो फिल्म की सतह के समांतर है। FeSe 1− x Te x फिल्मों पर इस नए विकसित तकनीक को लागू करके, हमने सुपरफ्लुइड घनत्व और क्वाज़ीपार्टिकल स्कैटरिंग दर के तापमान पर निर्भरता में परिवर्तन पाए, जो नेमेटिक सीमा पर है, जो पहले से ही कम तापमान पर माइक्रोवेव चुंबकीय क्षेत्र में माप में प्राप्त परिणामों के साथ सहमत है। नेमेटिक सीमा में ये परिवर्तन नेमेटिक और गैर-नेमेटिक चरणों के बीच के नमूनों के लिए सुपरकंडक्टिंग गैप संरचना में भिन्नता का सुझाव देते हैं।