हीलियम और आर्गन में बीजित NO के पल्स्ड सुपरसोनिक बीम में घूर्णन और इलेक्ट्रॉनिक आराम

प्रत resonantly सुधारित दो-फोटन आयनाइजेशन का उपयोग नाइट्रिक ऑक्साइड के पल्स्ड सुपरसोनिक विस्तार में घूर्णन और इलेक्ट्रॉनिक आराम के बारे में विस्तृत जानकारी प्राप्त करने के लिए किया गया है जो हीलियम और आर्गन में बीजित है। इस पद्धति की संवेदनशीलता के कारण, हम घूर्णन वितरणों को उच्च क्वांटम संख्याओं J″24.5 तक मापने में सक्षम थे। NO/Ar बीमों के लिए मापों को ठहराव दबाव (p0) और नोज़ल व्यास (d) के लिए 0.44≤p0d≤22 Torr cm की सीमा में किया गया, और NO/He बीमों के लिए 0.88≤p0d≤36 Torr cm की सीमा में। सामान्यतः, गैर-बोल्ट्ज़मान घूर्णन जनसंख्या वितरण देखने को मिला। इसके अलावा, हमने पाया कि NO/He बीमों के लिए, NO के दो इलेक्ट्रॉनिक उपराज्य 2Π1/2 और 2Π3/2 स्थानीय संतुलन में नहीं थे। इन अवलोकनों को एक सरल मॉडल के संदर्भ में समझा जा सकता है, जो राज्य-से-राज्य टकराव क्रॉस सेक्शन का उपयोग करता है, जिसे आयसेंट्रॉपिक विस्तार का वर्णन करने के लिए अनुभवजन्य हाइड्रोडायनामिक समीकरणों के साथ जोड़ा गया।