सिलिकॉन पिन डायोड का उपयोग कर एक्स-रे फ्लक्स का निर्धारण

एक्स-रे स्रोत से फोटोन फ्लक्स का सटीक मापन, जो नमूने द्वारा अवशोषित डोज की गणना के लिए आवश्यक है, अभी तक मैक्रोमोलीक्यूलर क्रिस्टलोग्राफी बीमलाइनों पर नियमित रूप से उपलब्ध नहीं है। पिन डायोड पर घटना फोटोन फ्लक्स का निर्धारण करने के लिए एक मॉडल का विकास यहां वर्णित किया गया है, और इसे स्विस लाइट सोर्स, विलिजेन, स्विट्जरलैंड, और एडवांस्ड लाइट सोर्स, बर्कले, यूएसए, में 4 से 18 केईवी के बीच ऊर्जा पर मैक्रोमोलीक्यूलर क्रिस्टलोग्राफी बीमलाइनों पर परीक्षण किया गया है। इन प्रयोगों ने दिखाया है कि सिलिकॉन में ऊर्जा जमाव पर आधारित एक सरल मॉडल उच्च गुणवत्ता वाले सिलिकॉन पिन डायोड पर घटना फ्लक्स निर्धारित करने के लिए पर्याप्त है। इस मॉडल का व्युत्पत्ति और मान्यता प्रस्तुत की गई है, और मैक्रोमोलीक्यूलर क्रिस्टलोग्राफी और व्यापक सिंक्रोट्रॉन समुदाय के उपयोग के लिए एक वेब-आधारित उपकरण पेश किया गया है।