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ग्लास माइक्रोइलेक्ट्रोड की विद्युत विशेषताओं को एक समानांतर प्रतिरोध और श्रृंखला में एक डीसी वोल्टेज स्रोत के साथ संधारिता के रूप में निर्दिष्ट किया जा सकता है। इन मानकों का मापन निम्नलिखित कारकों पर निर्भर करता है: सांद्रता, आयनिक प्रजातियाँ, PH, और माइक्रोइलेक्ट्रोड के अंदर और उसके टिप के चारों ओर इलेक्ट्रोलाइट समाधानों के हाइड्रोस्टैटिक दबाव। माइक्रोइलेक्ट्रोड प्रतिरोध और टिप संभावनाओं के पीछे का भौतिक-रासायनिक तंत्र ग्लास के सतह चार्जों और माइक्रोइलेक्ट्रोड के अंदर समाधानों की चालकता के बीच अन्तरक्रिया के रूप में व्याख्या की जाती है। माइक्रोइलेक्ट्रोड प्रतिरोध और टिप संभावनाओं को रिकॉर्ड करने के तरीके, कमरे के तापमान पर माइक्रोइलेक्ट्रोड भरने की विधि, और माइक्रोइलेक्ट्रोड और टिप संभावना का स्वचालित रिकॉर्डिंग का वर्णन किया गया है।
Schanne et al. (Mon,) ने इस प्रश्न का अध्ययन किया।
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