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एक ऑटोमिक फोर्स माइक्रोस्कोप को लेवर डिटेक्शन विधि के रूप में ऑप्टिकल इंटरफेरोमेट्री का उपयोग करते हुए प्रस्तुत किया गया है। 50-Å के पार्श्वीय रिज़ॉल्यूशन के साथ ग्रेफाइट के शीर्षोग्राफ़िक चित्र प्राप्त किए गए हैं, जिनमें प्रतिकर्षक संपर्क बलों का उपयोग किया गया है। ग्रेफाइट की सतह के चित्र भी रिकॉर्ड किए गए हैं जो परमाणु आवधिकता को दर्शाते हैं; इस मामले में, चित्र का विपरीत सतह की शीर्षोग्राफी का प्रतिनिधित्व नहीं करता है, बल्कि टिप पर पार्श्वीय घर्षण बल में भिन्नताओं को दर्शाता है। शीर्षोग्राफ़िक विशेषताओं को मानचित्रित करने के लिए आकर्षक विद्युत् बलों का उपयोग करते हुए चित्र प्रदर्शित किए गए हैं। उपकरण को स्कैनिंग टनलिंग माइक्रोस्कोप के रूप में भी संचालित किया गया है जबकि एक साथ टिप और ग्रेफाइट सतह के बीच संपर्क बल को मापा गया।
एरलैंडसन और सहयोगियों (मंगलवार,) ने इस प्रश्न का अध्ययन किया।