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MeVテストエリア(MTA)には、リニアックの端に400 MeV H^−ビームと、タングステンターゲットに衝突することで生成されたミューオンおよびパイオンの二次ビームラインがあります。MTAは放射線試験エリア(ITA)に位置しており、実験ではMTAビーム内の材料に対する放射線の影響を研究します。二次ビームの強度と粗いプロファイルを監視するために、引き出し式検出器が必要です。低いレートを測定し、高い強度を扱う能力を考慮して、SFPMが選ばれました。異なるシンチレーションファイバーとシリコンフォトマルチプライヤー(SiPM)モデルをテストし、どの組み合わせが最良の信号を提供するかを見極め、最終検出器をビームラインで使用する前に検出器の組み立て、操作、およびデータ取得ソフトウェアに慣れる計画でした。SiPM回路は、LEDパルサーで成功裏にテストされました。次の直近のステップとして、監視装置にSiPMを三種類の光ファイバーで設定し、Caenソフトウェアを使用してデータ取得の最良のモードを構成し、ストロンチウム-90を用いたオフラインソーステストを進める予定です。最も効率的な測定方法が明確になれば、ビームラインでの使用準備が整います。
ジャスティン・リース(水曜日)がこの質問を研究しました。
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