断片化された超高エネルギー重イオンビームの特性とその電子機器単一事象効果試験への影響

超高エネルギー（> 5 GeV/n）の重イオンビームは、標準および高エネルギーイオンビームと比較して異なる特性を示します。特に、断片化はビームの基本的な特徴であり、超高エネルギーによって保持される断片によって電子機器試験に重要な影響を与える可能性があります。本研究では、CERN北エリアで利用可能な一次鉛イオンビームとその断片が固体検出器によって特徴付けられます。この入力は後に、このビームを用いた商用コンポーネントの単一事象効果の測定を改善するために使用されます。さらに、固体検出器におけるエネルギー沈着分布は、モンテカルロシミュレーションにより得られたものと比較されます。