極端紫外線から軟X線吸収分光法のための100 nm未満の厚さのフラットジェット

水性溶媒中の希薄系、例えばナノ粒子、分子、タンパク質の構造的、電子的、動的特性の実験的特徴付けは、現在、オープンな課題です。X線吸収分光法（XAS）は、元素特異的であるため、この目的に対して最も確立されたアプローチの1つです。しかし、関心のある典型的な希薄系は、しばしば極端紫外線から軟X線の光子を必要とする軽元素で構成されています。このスペクトル領域では、水やその他の溶媒は非常に不透明であるため、背景吸収を最小限に抑えるために溶媒の体積を大幅に削減し、液体を除去する必要があります。ここでは、極端紫外線/軟XAS測定に適した真空環境で、サブマイクロメートルの厚さの液体フラットジェットを操作するために設計された実験用エンドステーションを提示します。開発された装置は、XAS実験専用のシンクロトロンおよび自由電子レーザー利用施設のビームラインに簡単に接続できます。液体フラットジェットの安定した生成と制御の条件について分析と議論が行われます。いくつかのテスト溶液に対する予備的なソフトXAS測定が示されます。