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光学品質の溶融シリカ (SiO2) の屈折率は、20°Cで0.21から3.71μまでの60の波長で決定されました。分散方程式 n2-1=0.6961663λ2λ2-(0.0684043)2+0.4079426λ2λ2-(0.1162414)2+0.8974794λ2λ2-(9.896161)2 は、λがマイクロンで表される場合、絶対残差10.5×10−6をもたらすことが分かりました。12の標本間の屈折率の変動も決定されました。材料の分散特性と屈折率の熱膨張係数がグラフで示されています。以前のNBS屈折率データとの比較についても議論されます。
アーヴィング・H・マリットソン (金曜日) はこの問題を研究しました。