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炭素1s光電子スペクトルは、X線光電子分光法(XPS)文献において最も広くフィッティング・分析されるナロー Scanです。したがって、その分析にはベストプラクティスに基づく確立されたプロトコルを採用することが非常に重要です。これらの努力の結果は、材料科学のさまざまな応用分野にわたる研究成果に影響を及ぼします。残念ながら、多くの科学文献におけるXPSピークフィッティングは不正確です。このガイドでは、XPS文献におけるC 1sナローScan分析に関連する最も一般的な問題について説明します。次に、C 1sスペクトルの分析アプローチを導くための規則、原則、および考慮事項の概要を提供します。このアプローチに従うことにより、(1) 一般的な問題の回避と (2) 実験データからの信頼性が高く再現可能で意義のある情報の抽出が結果として得られることを提案します。
Gengenbachら(Fri)はこの質問を研究しました。
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