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要旨 回帰診断と非線形最小二乗法を組み合わせて、粉末回折データから単位格子パラメータを精密化する方法について議論します。これは、実験的に決定された量(通常は2θ hklまたはエネルギーE hkl)の残差を最小化する方法を紹介します。回帰診断、特に削除診断は、回帰結果に有害である可能性のある外れ値や影響力のあるデータを検出する上で非常に貴重です。計算された残差の単純な検査だけでは、データセット内の深刻な有害外れ値を検出することがしばしば失敗します。なぜなら、単独の残差は関係するデータのレバレッジ(感度)に関する情報を提供しないからです。各観測値(hkl反射)を削除した際に各単位定数で予測される変化を示す回帰診断は、計算結果の個別の反射に対する感度を評価する上で特に重要です。非線形回帰法を実装し、診断出力を提供する新しいコンピュータプログラムが説明されています。
Holland et al. (Sat,) はこの問題を研究しました。
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