液体水銀における表面層のX線反射率測定

水銀の液体-蒸気界面の表面法線構造は、運動量移動のqₙ0ex{0ex}=0ex{0ex}2.5 ^--1までのX線反射率を測定することによって調査されました。この結果は、液体金属における表面層の直接的な実験的証拠を提供します。層の間隔はHg原子の原子寸法によって与えられます。最小の層幅は、キャピラリー波理論の予測と良く一致しています; 層の振幅は、3--3.5の特性長さでバルクに減衰し、これはバルク対相関関数の減衰長さに近いです。