高悪性度漿液性卵巣癌の画像とゲノム解析の統合により、PTEN損失が共通の誘因事象および予後分類因子であることが明らかになる

背景：TP53およびBRCA1/2変異は、高悪性度漿液性卵巣癌（HGSOC）の主な誘因です。腫瘍断面の画像解析による組織表現型をゲノムプロファイルと組み合わせることで、他の重要な誘因が明らかになると仮定します。結果：TCGA HGSOC腫瘍のゲノム解析と結合した間質成分の自動推定は、間質がPTEN発現の推定値に強いバイアスをかけることを示しています。腫瘍特異的PTEN発現は、521例のHGSOCを含む組織マイクロアレイを使用して2つの独立したコホートで検証されました。PTENの損失またはダウンレギュレーションは、免疫蛍光法で最初のコホートの77%に、免疫組織化学法で検証グループの52%に見られ、研究サイト、年齢、病期、グレードで調整された多変量Cox回帰モデルで生存率の低下と関連しています。TCGAデータの再分析では、PTENのヘミ接合体損失が一般的（36%）であり、PTENの発現とアンドロゲン受容体の発現が正の相関関係にあることが示されています。低アンドロゲン受容体の発現は、TCGAのデータおよび最初のコホートの免疫組織化学解析において生存率の低下と関連していました。結論：PTENの損失はHGSOCにおいて一般的な事象であり、有意に悪い予後を定義するサブグループを形成し、HGSOCに対してPI3Kおよびアンドロゲン受容体経路を標的とする薬剤の合理的な使用を示唆しています。この研究は、画像からの組織表現型とゲノム解析を組み合わせた統合的アプローチが、組織の不均一性による混乱効果を解決できることを示しており、他の癌における新しい誘因を特定するために使用されるべきです。