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背景:過去数年間、塞栓に加えて脳血流が損なわれることが、内頸動脈の閉塞を持つ患者における一過性脳虚血発作や虚血性脳卒中の原因に重要な役割を果たす可能性があるとの証拠が蓄積されてきました。この証拠は臨床的特徴と補助的調査に見られ、特に脳血流の測定において顕著です。レビューの要約:閉塞した頸動脈に関連する一過性脳虚血発作または軽度の虚血性脳卒中を持つ患者における20の追跡研究に基づくと、脳卒中の年次リスクは5.5%(95%信頼区間CI、5.0%から6.0%)であり、同側の脳卒中(20の研究のうち11で区別された)は2.1%(95% CI、1.6%から2.8%)でした。ポジトロン放出断層撮影法、単一光子放出CT、経頭蓋ドoppler法、または安定ゼノンCT(6つの研究)で測定された脳血流が損なわれている患者は、さらに高い年次リスクを持ちます(全脳卒中:12.5%;95% CI、8.9%から17.6%;同側の脳卒中:9.5%;95% CI、6.4%から14.0%)。結論:脳血流の損失が症候性頸動脈閉塞を持つ患者における重要な原因因子である可能性があるため、治療のための医療および外科的選択肢がこの視点で検討されます。
Klijnら(Wed)がこの問題を研究しました。