ポリスチレンの光学特性：近赤外線からX線領域までの光学和則の収束

ポリスチレンの薄膜における光学特性は、透過測定から0.6 eVから82 eVのフォトンエネルギーで決定されました。消失係数kに関する結果は、8050 eVまでの軟X線および硬X線領域での以前の実験結果と組み合わされました。この異常に広いエネルギー範囲における光学特性に関するいくつかの和則の分析が行われ、最近Altarelliらによって導出された屈折率nに関する和則が含まれました。炭素の価電子励起とコア励起の間で、総電子の2.7%に対応するオシレーター強度の再分配が見られました。得られた複素誘電関数とエネルギー損失関数を使用して、オシレーター強度分布全体にわたる高速荷電粒子の平均光励起エネルギーと平均エネルギー損失はそれぞれ25.1 eVおよび36.8 eVと評価されました。