EBITからの最高電荷状態イオンの冷却ペニングトラップ内での拘束

「電子ビームイオントラップ」（EBIT）から抽出された高電荷のXe44+およびTh68+,72+イオンを、現在オープンシリンダーデザインの冷却ペニングトラップ（最大6 Tの磁場）であるRETRAPに注入後、再捕捉することが示されています。効率的な再捕捉に不可欠な短パルス（5–20 μs）でのEBITからのイオン抽出が行われます。イオンは磁場内のトラップ上方に取り付けられた減速管に入る際に減速されます。その後、ポテンシャルが急速に（100 ns）低下し、低エネルギーイオンがトラップに入ることを可能にします。トラップの下にある検出器による遅延イオン放出パルスの検出により、最大25%の捕捉効率が観察されます。異なるイオンの共鳴軸振動周波数を調整することにより、単一および複数のイオンによって誘導された信号電圧が調整回路で観察されています。イオンの輸送と再捕捉、およびその検出に関する結果が説明され、捕捉効率について議論されます。これらの研究の動機は、トラップされた非常に高電荷のイオンを低温（4 K）まで冷却し、超高分解能精密分光、超低エネルギーでの衝突研究、および高電荷イオンのクーロン集団における相転移の観察を行うことです。