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ナフタレン四酸無水物 (NTCDA) のジイミド誘導体 (NTCDI) の Ag/Si(111)-√3 × √3R30° 表面への吸着が、超高真空 (UHV) スキャニングトンネリング顕微鏡 (STM) を用いて調査されました。イミド基を介した水素結合が吸着分子の配列を制御し、分子間距離が1.5格子定数の長さで、最大20nmの連続した列を形成します。結晶性の NTCDI の分子のパッキングにおいても、ほぼ同一の列のモチーフが観察されました。チップと吸着物質の相互作用は、超分子ナノ構造の修飾と再配置を引き起こします。
Keeling et al. (Mon,) がこの問題を研究しました。