信頼性に対するベイズ非パラメトリックアプローチ

信頼性の文脈における問題は、ベイズ非パラメトリックアプローチによって扱うことができると提案されている。標本経路が適切にプロセスのパラメータ関数を選ぶことによって増加するハザード率と仮定できる確率過程が定義される。ハザード率の事後分布は、正確なデータと検閲されたデータの両方に対して導出される。ハザード率と累積分布関数のベイズ推定値は、二乗誤差型の損失関数の下で求められる。いくつかのシミュレーションが行われ、推定量をより理解するために推定値がグラフに示される。最後に、KaplanおよびMeierによる論文のいくつかのデータからのハザード率の推定値が構築される。