半導体ランダムアクセスメモリにおけるパターン感受性故障のクラスのテスト手順

半導体ランダムアクセスメモリにおけるパターン感受性故障のクラスについて研究しました。モデリングされた故障を検出し、位置を特定するための効率的なテスト手順を提示します。