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초록 양전자 소멸 분광법을 사용하여 유리 전이 온도 이상의 온도와 이하의 온도에서 외부 압력의 함수로 아민 경화 에폭시에서 자유 부피를 연구하였다. 관찰된 오르토 양전자 수명 τ 3 및 형성 확률 I 3는 압력이 증가함에 따라 감소하였다. τ 3의 감소는 0.135에서 0.045 nm 3 범위의 평균 자유 부피 홀 크기의 감소와 관련하여 해석된다. 에폭시 내 자유 부피의 분율과 자유 부피 압축성은 100°C의 압력의 함수로 계산되었다.
Wang et al. (Wed,)는 이 질문을 연구하였다.