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광열(PT) 신호는 가열광선의 흡수로 인해 샘플의 굴절률에서 발생하는 미세한 변화로부터 나타납니다. 굴절률 변화는 일반적으로 다른 색의 두 번째 탐색 빔으로 측정됩니다. 지난 20년 동안 이 전적으로 광학적인 탐지 방법은 단일 입자 및 단일 분자의 민감도에 도달하였으며, 이는 재료 과학 및 생물학에서 독창적인 응용을 탄생시켰습니다. PT 현미경은 강한 산란체들 사이에서 개별 나노흡수체를 샷 소음 한계에 맞춰 탐지할 수 있게 하며, 형광 기반 탐지의 많은 제한사항을 우회할 수 있습니다. 이 리뷰는 PT 현미경의 이론적 기초, 단일 나노입자 및 단일 분자 이미징에 대한 민감도를 향상시킨 방법론적 발전, 그리고 재료 과학 및 세포 생물학에서 단일 나노입자 이미징 및 추적에 대한 방대한 응용을 설명합니다.
Adhikari et al. (Fri,)는 이 질문을 연구했습니다.