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원자력 현미경(AFM)은 전도체와 절연체의 표면 구조를 연구하기 위한 유망한 새로운 방법입니다. 절연형 스타일러를 사용하여 그래파이트 표면을 매핑하면서 우리는 2.5 Å보다 더 나은 해상도를 달성했습니다.
Binnig et al. (Mon,)이 이 질문을 연구했습니다.