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전자기 간섭은 주사 전자 현미경에서 주요 왜곡 원인 중 하나입니다. 전자기 간섭에 의해 생성된 주사 전자 현미경 이미지 왜곡은 보통 엣지 흐림(저속 스캔 시) 또는 진동(고속 스캔 시)으로 나타납니다. 이 문제에 대한 하드웨어 솔루션, 예를 들어 정전기 및 자기 차폐, 는 비용이 많이 들고 경우에 따라 구현이 어려울 수 있습니다. 현재의 연구는 하드웨어 수정을 필요로 하지 않고, 주사 전자 현미경 문제에 소프트웨어 기반 디지털 신호 처리를 새롭게 적용하여 주기적 왜곡을 크게 감소시켰습니다.
Płuska 외(성)은 이 문제를 연구했습니다.