자동화된 위상 측정 프로필로메트리: 위상 매핑 접근법

사인형 격자가 기준 평면이나 측정할 확산 물체에 투사될 때, 격자선에 수직인 선을 따라 기준 평면과 물체의 모든 점은 고유한 위상 값으로 특성화될 수 있습니다. 위상 변조 방법을 사용하여 이 위상을 정확하게 측정하고, 동일한 위치를 가진 기준 평면과 물체의 점을 결정함으로써 물체의 높이를 계산할 수 있음을 보여줍니다. 작동 시스템은 프로젝터, 이동 가능한 사인형 격자, 그리고 마이크로컴퓨터와 인터페이스된 검출기 배열을 필요로 합니다. 확산 테스트 물체에 대한 측정 결과가 설명되고, 오류가 분석됩니다.