노이즈 양자 프로세스의 대칭화된 특성화

다체 양자 시스템의 고정밀 제어를 개발하는 주요 목표 중 하나는 이들을 양자 컴퓨터로 활용하는 잠재력을 실현하는 것입니다. 환경 노이즈와 기타 제어 한계로 인한 '탈상관(decoherence)'에 대한 양자 시스템의 극단적인 취약성이 큰 장애물입니다. 양자 시스템에 영향을 미치는 노이즈가 특정 조건을 만족할 경우 양자 계산이 가능하지만, 현재의 다체 시스템에 대한 노이즈 특성화 방법은 해결하기 어렵습니다. 우리는 양자 시스템에 영향을 미치는 탈상관의 주요 특성 중 일부를 직접 실험적으로 측정할 수 있는 대칭화 기반 기술을 소개합니다. 우리의 방법은 하위 시스템의 수에 따라 필요한 실험의 수를 지수에서 다항식으로 줄입니다. 이 기술은 고체 상태에서 핵 스핀 제어 최적화를 위해 입증되었습니다.