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고에너지 저장 밀도를 가진 새로운 무연 반자유전 HfxZr1-xO2 (x = 0.1–0.4) 필름의 유망한 에너지 저장 특성이 보고된다. Hf0.3Zr0.7O2 커패시터의 에너지 저장 밀도는 175 °C까지 온도가 증가해도 감소하지 않으며, 필드 사이클링을 109회 수행한 후에도 단지 ≈4.5%만 감소한다.
Park et al. (2014)가 이 질문을 연구했다.
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