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초록—편광된 감마선 광자가 컴프턴 산란을 겪을 때, 고정된 산란 각도에서 광자가 산란될 확률은 방위각에 따라 달라집니다. 입사하는 감마선의 편광은 산란 분포의 각도를 관찰함으로써 이 효과를 활용하여 측정할 수 있습니다. 실온에서 작동하는 3차원 위치 감응형 CdZnTe 탐지기는 좋은 에너지 분해능과 상호작용의 위치를 제공할 수 있어, 이러한 탐지기가 컴프턴 이미징과 편광 탐지를 동시에 수행할 수 있게 합니다. 본 논문에서는 3-D 위치 감응 기능이 있는 11×11 픽셀화된 15×15×10 mm³ CdZnTe 탐지기가 입사 감마선의 편광을 감지하는 효과적인 장치가 될 수 있음을 보여줍니다. 색인 용어—컴프턴 산란, 감마선 편광, 3-D 위치 감응형 CdZnTe 탐지기.
Xu et al. (Mon,)은 이 질문을 연구했습니다.
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