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단일 분자 공초점 현미경을 사용하여 488 nm에서 여기된 개별 ZnS 코팅 CdSe 양자점(QDs)의 형광 간헐성을 연구합니다. 공초점 장치는 전례 없는 큰 동적 범위(109)의 확률 밀도에서 “켜짐” 및 “꺼짐” 시간(즉, 지속적인 형광 방출 및 어둠의 주기)을 측정할 수 있게 합니다. τoff에서 비지수 행동이 105의 시간 범위에서 관찰됩니다. 극명한 대조적으로, 모든 QD의 동일한 τoff 분포는 이 109 배의 동적 범위에서 단순한 역 법칙으로 설명됩니다, 즉 P(τoff)∝1/τoff1+α. 이러한 역 법칙 행동은 분산된 동역학의 명확한 징후로, (i) 트랩 깊이의 지수 분포 또는 (ii) QD 코어/계면 상태 사이의 터널링 거리의 분포를 예측에서 주목됩니다. 이는 반도체 QD에서 형광 간헐성에 대한 모든 이전 연구에 중요한 통계적 의미를 가지며, 단일 고분자 분자와 같은 다른 시스템에 대해서도 더 광범위한 의미가 있을 수 있습니다.
Kuno 외 (Tue,)가 이 질문을 연구했습니다.
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