컴퓨터 단층촬영에서 푸리에 역변환을 위한 빠른 신크 함수 그리딩 알고리즘

컴퓨터 단층촬영에서 이미지를 재구성하기 위한 푸리에 역변환 방식은 극좌표 또는 다른 측정 그리드에서 패스트 수치 푸리에 역변환에 필요한 직교 그리드로의 보간이 어려워 널리 사용되지 않고 있다. 푸리에 역변환 방식은 평행 광선 투영 데이터에 대해 역 투영 방법보다 계산적으로 더 빠른 것으로 알려져 있지만, 부정확한 보간으로 인한 아티팩트로 인해 일반적으로 이 방법의 적용이 제한되었다. 본 논문은 직접 푸리에 변환과 함께 사용하여 임의로 작은 아티팩트 수준을 달성할 수 있는 계산 효율적인 그리딩 알고리즘을 제시한다. 이 방법은 팬빔 프로젝션, 회절 단층촬영 및 NMR 이미징과 같은 다른 측정 기하학에 적용될 가능성이 있다.