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저자들은 디스크 자기 저장 물질의 매체 열화로 인해 발생하는 디스크 서브시스템에서 잠재적인 섹터 결함을 탐지하기 위한 새로운 개선 방법을 제시합니다. 드물게 접근하는 섹터에서 매체가 열화될 경우, 잠재적인 디스크 결함은 오랜 시간 동안 탐지되지 않을 수 있습니다. 흔히 사용되는 SCSI 디스크를 스캔하기 위해 디스크의 유휴 시간을 활용하는 적응형 알고리즘이 제안됩니다.
Kari et al. (화요일)이 질문을 연구했습니다.
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