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강자성 II-VI 희석 자성 반도체(DMS) Zn1−xCrxTe(x=0.035)의 에피택시얼 필름의 자기적 및 수송 특성을 조사하였다. 이 필름의 큐리 온도 TC는 약 15 K로 보고된 강자성 II-IV DMS 중 가장 높았다. 실온에서의 홀 효과 측정에서 홀 농도 p는 약 1×10^15 cm−3로, 캐리어 유도 강자성 Zn1−xMnxTe에서 보고된 값보다 여러 순서 낮았다. 이러한 결과는 Cr 이온 간의 강자성 초교환 상호작용이 Zn1−xCrxTe에서 관찰된 강자성을 초래한다고 제안한다.
Saito et al. (수), 이 질문을 연구하였다.