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초록 얼음 입자의 파손은 얼음 구름에서 공중 입자 프로브로 측정한 값에 크게 오염을 줄 수 있다. 캐나다 환경부와 NASA 글렌 연구소(GRC)는 측정에 미치는 파손의 영향을 완화하기 위해 프로브 팁을 수정하고 시험하는 작업을 수행하였다. 이 연구는 입자 프로브 암 팁 설계 작업 중 얻어진 결과에 대한 개요를 제시한다. 이 작업은 세 가지 프로브—입자 측정 시스템(Particle Measuring Systems Inc. (PMS)) 전방 산란 분광계 프로브 및 광학 배열 프로브, 드롭렛 측정 기술(Droplet Measurement Technologies (DMT)) 구름 이미징 프로브의 수정에 초점을 두었지만, 이 작업의 결과는 일반적인 특성을 갖고 있으며 다른 유사한 기기에 적용할 수 있다. 프로브의 하우징 주위의 공기 흐름 분석 결과와 프로브 팁에서의 입자 튕김 시뮬레이션이 여기에서 논의된다. 원래 설계된 팁과 수정된 팁은 얼음과 액체 분무에서 고속 풍동에서 시험되었다. 얼음 입자의 튕김 과정과 프로브 암 표면에서 물이 떨어지는 패턴은 고속 비디오 카메라의 도움으로 연구되었다. 항공기 속도에서, 고체 표면에서 튕긴 후 얼음 입자가 공기 흐름을 가로질러 몇 센티미터를 이동하고 최대 1cm까지 앞으로 튕길 수 있음이 발견되었다. 원래 디자인된 팁을 가진 입자 프로브의 샘플 볼륨이 파손되고 튕겨진 입자에 의해 오염된 것이 고속 비디오 기록을 통해 처음으로 직접 문서화되었다. 기존 수정 및 향후 입자 프로브 하우징 디자인에 대한 일련의 권장 사항이 제시된다.
Korolev et al. (Wed,)는 이 문제를 연구하였다.