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상수 고장률을 가지는 단일 매개변수 지수 분포의 생명 테스트 실험이 고려된다. 감마 사전 분포를 사용하여, 저자들은 그 고장률에 대한 사후 분포를 유도하고, 따라서 미래 관측치의 예측 분포를 도출한다. 사용 가능한 데이터는 유형 II 검열 샘플링에서 얻어진 것이다. 예측 분포를 사용하여 동일한 고장 프로세스에서 몇 개의 미래 관측치 중 j번째로 작은 값의 예측 한계를 구성하기 위한 방법이 도출된다. 1000개의 미래 샘플에 대한 몬테 카를로 연구에 기초하여, 한계가 첫 번째 미래 관측치를 포함하는 비율(수치적 설명을 위한 특정 사례)이 얻어졌으며 매우 높게 나타났다. 결과는 1972년에 J.F. Lawless에 의해 유도된 고전적인 한계와 비교된다.
Upadhyay 외 (Sun,)이 이 질문을 연구하였다.