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프로브 결함은 유전자 발현 연구에서 주요한 노이즈의 원인입니다. 기존 접근 방식은 유전체 정렬과 같은 외부 정보를 기반으로 노이즈가 있는 프로브를 감지하는 반면, 우리는 발현 데이터에서 직접 프로브 신뢰성을 분석하는 선정된 확률적 방법을 도입하고 검증했습니다. 이는 프로브 수준의 다양한 노이즈 원인에 대한 통찰을 제공하고 프로브 설계를 안내할 도구를 제공합니다.
Lahti et al. (Mon,)은 이 질문을 연구했습니다.
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