December 19, 2005Open Access
View Full Paper활동 은하핵에서의 소프트 X선 과잉에 대한 설명
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Abstract
우리는 XMM-Newton으로 촬영한 타입 1 활동 은하핵(AGN) 스펙트럼의 대규모 샘플을 제시하고, 이를 일반 모델(전력 법칙과 블랙 바디) 및 상대론적으로 흐려진 포토이온화 디스크 반사 모델로 피팅하였습니다. 디스크 반사 모델이 더 나은 적합임을 확인하였습니다. 이 모델은 모든 출처의 소프트 과잉을 포함한 연속체 형태를 성공적으로 재현합니다. 또한, 이 모델은 전통적으로 흡수 경계로 해석되는 많은 특성을 재현합니다. 우리는 이 모델을 사용하여 출처의 특성을 유추할 수 있으며, 특히 샘플 내 대부분의 블랙홀이 강하게 회전하고, 경사가 70도 초과인 출처가 부족하다는 것을 확인하였습니다. 우리는 디스크 반사 모델이 AGN X선 스펙트럼 연구에서 중요한 도구임을 결론짓습니다.