단일 광자 및 이중 광자 여광 자극 하의 스캐닝 총 내부 반사 형광 현미경: 이미지 형성

우리는 집중 링 빔 조명을 사용하고 높은 수치 개구(N.A. = 1.65)를 갖는 스캐닝 총 내부 반사 형광 현미경(STIRFM)이라는 새로운 유형의 총 내부 반사 형광 현미경(TIRFM)을 제안합니다. STIRFM에 의해 생성된 탈수 영역은 측면에서 집중되어 두 광자 흡수와 같은 비선형 효과를 유도할 수 있는 작은 자극 부피를 생성합니다. CdSe 양자점 나노크리스탈 및 로다민 6G가 도핑된 미세구슬의 실험 이미지는 현재 설정에서 좋은 측면 및 축 방향 해상도가 달성되었음을 보여줍니다. STIRFM 기하학에서 생성된 초점의 이론 시뮬레이션은 높은 수치 개구를 가진 대물렌즈의 비편광 효과로 인해 집중된 탈수 영역이 두 개의 피크로 나뉜다는 것을 보여줍니다. 하지만 단일 광자 및 이중 광자 자극 경우 모두에 대한 포인트 스프레드 함수 분석은 초점 분할 효과의 탐지가 탐지 핀홀 크기에 의존한다는 것을 보여줍니다. 이미지 형성에 대한 핀홀 크기의 효과는 이론적으로 조사되고 나노크리스탈 이미지로 실험적으로 확인됩니다.